Turck's TBEN-S ultracompact I/O modules create with LabVIEW drivers new possibilities for efficient test stand automation
LabVIEW Drivers for IP67 Block I/O Modules
24/19 – New drivers turn Turck's compact block I/Os into the robust alternative for test stand automation using IP67 modules – without the need for a PLC directly in the field
Mülheim, November 13, 2019National InstrumentsのWebサイトでは、TurckのコンパクトTBEN-S I / Oモジュール用のダウンロード可能なLabVIEWドライバが提供されています。 新しいドライバーにより、ユーザーは生産中のテストスタンドの自動化のコストを大幅に削減できます。 堅牢なTBEN-S2-2RFID-4DXP、TBEN-S2-4AO、TBEN-S2-4AI、およびTBEN-S1-8DXP I / Oブロックモジュールは、テストスタンドの自動化に一般的に使用される高価なI / Oシステムを置き換えることができます。 モジュールを制御するための別個のPLCは不要になりました。 高いIP67保護のおかげで、モジュールは制御キャビネットを必要とせずに現場に直接設置できます。
LabVIEWドライバは、Kirschenhofer Maschinen GmbHのスペシャリストによる顧客プロジェクトの一環として、Turckと緊密に協力して開発されました。 同社のポートフォリオは、機械やプラントの構築からソフトウェア開発、システム統合やテストスタンドの自動化にまで及びます。
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